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美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn)，好的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性，保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性，被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。TF-240 X-RAY射線穿透性薄膜

美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn)，好的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性，保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性，被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。TF-240 輕質(zhì)元素*檢測薄膜

美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn)，好的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性，保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性，被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。25.4μ樣品麥拉膜TF-225

美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn)，*的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性，保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性，被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。麥拉膜薄膜TF-115

美國Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。2.5 μm卷狀樣品薄膜型號100

美國Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。3.6 μm樣品薄膜--150